出版社：华中科技大学出版社
年代：2012
定价：28.0
本教材主要内容为：机械零件的尺寸公差与配合及其选用，机械零件几何公差及选用，机械零件表面结构特征及选用，滚动轴承的公差配合及选用，键与花键的公差配合及选用，螺纹的公差配合及选用，齿轮的公差配合及选用； 机械零件长度及角度尺寸的测量，机械零件几何公差的测量，机械零件表面结构特征的测量，有包容要求机械零件的检测，键与花键的公差测量， 螺纹公差的测量，齿轮公差的测量。
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | 公差配合与技术测量站内查询相似图书 | ||
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| 出版地 | 武汉 | 出版单位 | 华中科技大学出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 28.0 | 语种 | 简体中文 |
| 尺寸 | 26 × 18 | 装帧 | 平装 |
| 页数 | 印数 | ||