数字系统测试和可测试性设计

书籍简介:

这本书论述了数字系统测试和可测性设计，它通过数字电路设计实例和方法阐明了测试和可测试性的概念。本书还采用Verilog模型和Verilog测试平台实现并解释故障仿真和测试生成算法。本书的最大特点是广泛地使用Verilog和Verilog PLI编写测试应用，这把本书与其他讨论测试和可测试性的书籍区分开来。

书籍规格:

书籍信息归属:

数字系统测试和可测试性设计是机械工业出版社于2015.4出版的中图分类号为 TP271 的主题关于 数字系统－系统测试 的书籍。