出版社：陕西科学技术出版社
年代：2011
定价：30.0
随着Si纳米MOS器件尺寸不断缩小，低频噪声幅度越来越大。本书对纳米MOS器件中的低频噪声进行了系统的研究，包括纳米MOS器件低频招式测量和分析方法、漏源电流RTS噪声的研究、栅电流噪声的研究、背景1/f噪声的研究等。
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | 纳米MOS器件中的低频噪声站内查询相似图书 | ||
| 9787536950948 如需购买下载《纳米MOS器件中的低频噪声》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN | |||
| 出版地 | 西安 | 出版单位 | 陕西科学技术出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 30.0 | 语种 | 简体中文 |
| 尺寸 | 26 × 19 | 装帧 | 平装 |
| 页数 | 印数 | ||
纳米MOS器件中的低频噪声是陕西科学技术出版社于2011.6出版的中图分类号为 TN4 的主题关于 纳米材料－微电子技术－电子器件－低噪声－研究 的书籍。