出版社：电子工业出版社
年代：2005
定价：25.0
本书在介绍有关可靠性基本概念的基础上，从可靠性工程的角度出发，描述在嵌入式系统设计的过程中，在硬件和软件设计方面应采取哪些措施，以提高系统的可靠性。书中还重点介绍了作者在多年科研工作中总结出的提高可靠性的实用方法，对读者极具指导意义。
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | 嵌入式系统可靠性设计站内查询相似图书 | ||
| 丛书名 | 嵌入式系统与单片机系列丛书 | ||
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| 出版地 | 北京 | 出版单位 | 电子工业出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 25.0 | 语种 | 简体中文 |
| 尺寸 | 26 | 装帧 | 平装 |
| 页数 | 印数 | 5000 | |
嵌入式系统可靠性设计是电子工业出版社于2005.12出版的中图分类号为 TP360.21 的主题关于 微型计算机－系统可靠性－系统设计 的书籍。
武晔卿, 王广辉, 彭耀光, 编著
(美) 瓦伊德 (Vahid,F.) , (美) 吉瓦尔吉斯 (Givargis,T.) , 著
孙弋, 周延, 主编
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邓中亮, 段大高, 崔岩松, 编著
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