出版社：科学出版社
年代：2009
定价：75.0
测试性与机内测试（BIT）是当前国内外装备保障研究和应用的热点之一，国内外研究和应用实践表明，机内测试（Built－inTest,BIT）技术是解决装备测试诊断与维修保障的最有效技术途径之一。但机内测试的一个国际性难题就是解决虚警问题，虚警的存在，极大地影响了机电系统BIT技术的发展和深入应用。因此，开展机电系统BIT降虚警技术的研究具有重要的学术价值和工程实际应用价值。本专著系统的对BIT的虚警问题开展研究，针对机电系统机内测试广泛存在的虚警问题，对虚警的产生原因、机理及表现形式进行了深入分析和建模，根据机电系统特点，从信号获取层、信号处理层、诊断决策层三个层次及时间应力导致虚警的抑制、控制系统鲁棒性降虚警等角度详细阐述了降虚警的原理、模型和技术方法，给出了降虚警技术在典型机电系统中的应用案例。
前言
第1章绪论
1．1机电系统BIT概述
1．1．1BIT基本概念
1．1．2BIT技术发展历程
1．1．3机电系统BIT基本概念及发展历程
1．2机电系统BIT降虚警技术研究现状
1．2．1BIT虚警概念及影响
1．2．2BIT降虚警技术研究现状
1．2．3机电系统BIT降虚警技术研究现状
1．3机电系统BIT降虚警技术体系
1．3．1机电系统BIT虚警特点
1．3．2机电系统BIT降虚警技术的总体框架
1．4本书篇章结构
参考文献
第2章传感层降虚警技术
2．1概述
本书针对机电系统机内测试广泛存在的虚警问题进行了系统的论述：对虚警的产生原因、机理及表现形式进行深入分析和建模；根据机电系统监控与诊断的特点，从基于征兆的监控诊断虚警、基于模型的监控诊断虚警和时间应力导致的虚警等角度，详细阐述了虚警抑制和降虚警的原理、模型和技术方法；给出了降虚警技术在典型机电系统中的应用案例。本书可作为高等院校相关专业研究生和高年级本科生的参考书，也可供从事装备设计、测试与维修保障的科研和工程技术人员参考。 测试性与机内测试是当前国内外装备设计、测试与维修保障领域研究和应用的热
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | 机电系统机内测试降虚警技术站内查询相似图书 | ||
| 丛书名 | 装备测试性工程系列丛书 | ||
| 9787030256515 如需购买下载《机电系统机内测试降虚警技术》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN | |||
| 出版地 | 北京 | 出版单位 | 科学出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 75.0 | 语种 | 简体中文 |
| 尺寸 | 24 × 0 | 装帧 | 平装 |
| 页数 | 印数 | ||
机电系统机内测试降虚警技术是科学出版社于2009.出版的中图分类号为 TM7 的主题关于 机电系统－机内测试－虚警－控制 的书籍。