电子元器件可靠性试验工程

书籍简介:

本书包括了电子元器件可靠性试验的各主要类别：环境试验（包括13类环境和综合环境试验）；寿命试验和加速寿命试验；鉴定试验；极限应力试验；可靠性筛选试验；可靠性增长试验。各试验类别包括了原理、理论模型、试验设计、实施程序、设备要求、关键技术及试验示例等并介绍了相关的可靠性基础知识和数理统计方法，提供了元器件失效分析和破坏性物理分析方法、程序及其关键性技术，使用状态中元器件失效预测技术。

书籍规格:

书籍信息归属:

电子元器件可靠性试验工程是电子工业出版社于2005.02出版的中图分类号为 TN606 的主题关于 电子元件－可靠性试验 的书籍。