出版社：电子科技大学出版社
年代：2005
定价：20.0
本书汇集了微米、纳米长度的扫描电镜测量领域的多年研究成果，其内容包括了对扫描电子显微镜实验的认证和认可问题进行了释疑，简要论述了与测长相关的技术问题，对提高实验室的分析水平具有重要意义。
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | 扫描电镜测长问题的探讨站内查询相似图书 | ||
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| 出版地 | 成都 | 出版单位 | 电子科技大学出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 20.0 | 语种 | 简体中文 |
| 尺寸 | 26 | 装帧 | 平装 |
| 页数 | 280 | 印数 | 1000 |
扫描电镜测长问题的探讨是电子科技大学出版社于2005.10出版的中图分类号为 TN16 的主题关于 扫描电子显微镜－测量－研究 的书籍。