扫描电镜测长问题的探讨

扫描电镜测长问题的探讨

周剑雄, 陈振宇, 主编

出版社:电子科技大学出版社

年代:2005

定价:20.0

书籍简介:

本书汇集了微米、纳米长度的扫描电镜测量领域的多年研究成果,其内容包括了对扫描电子显微镜实验的认证和认可问题进行了释疑,简要论述了与测长相关的技术问题,对提高实验室的分析水平具有重要意义。

书籍规格:

书籍详细信息
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7810949624
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出版地成都出版单位电子科技大学出版社
版次1版印次1
定价(元)20.0语种简体中文
尺寸26装帧平装
页数 280 印数 1000

书籍信息归属:

扫描电镜测长问题的探讨是电子科技大学出版社于2005.10出版的中图分类号为 TN16 的主题关于 扫描电子显微镜-测量-研究 的书籍。