互换性与测量技术基础

互换性与测量技术基础

高丽, 于涛, 杨俊茹, 主编

出版社:国防工业出版社

年代:2011

定价:29.0

书籍简介:

本书分为绪论,测量技术基础,尺寸的公差、配合与检测,几何公差与检测,表面粗糙度与检测,圆锥和角度公差与检测,尺寸链基础,光滑极限量规设计,常用结合件的公差与检测,渐开线圆柱齿轮传动公差与检测等共11章。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787118078817
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出版地北京出版单位国防工业出版社
版次1版印次1
定价(元)29.0语种简体中文
尺寸26 × 19装帧平装
页数 197 印数

书籍信息归属:

互换性与测量技术基础是国防工业出版社于2012.1出版的中图分类号为 TG801 的主题关于 零部件-互换性-高等学校-教材 ,零部件-测量技术-高等学校-教材 的书籍。