互换性与技术测量

互换性与技术测量

李蓓智, 主编

出版社:华中科技大学出版社

年代:2016

定价:30.0

书籍简介:

本书以各类制造装备制件(包括零、部件和整机)的几何参数为研究对象,介绍涉及设计、制造及使用全过程的几何参数精度理论及相应技术规范、精度的测试评价方法以及精度的设计方法及其应用,这些知识和技能是高等工科院校制造类及仪器仪表类等专业的重要技术基础。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787568017053
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出版地武汉出版单位华中科技大学出版社
版次2版印次1
定价(元)30.0语种简体中文
尺寸26 × 18装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

互换性与技术测量是华中科技大学出版社于2016.4出版的中图分类号为 TG801 的主题关于 零部件-互换性-高等学校-教材 ,零部件-技术测量-高等学校-教材 的书籍。