互换性与技术测量基础

互换性与技术测量基础

柳晖, 主编

出版社:华东理工大学出版社

年代:2005

定价:25.0

书籍简介:

本书为高等工科院校机械类各专业的技术基础课教材。内容包括:互换性与标准化的基本概念,尺寸公差与圆柱结合的互换性,形状与位置公差,表面粗糙度,测量技术基础,光滑工件尺寸检验和量规设计,滚动轴承与孔、轴结合的互换性圆锥结合的互换性,键、花键结合的互换性等。

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7562818126
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出版地上海出版单位华东理工大学出版社
版次1版印次1
定价(元)25.0语种简体中文
尺寸26装帧平装
页数 270 印数 4000

书籍信息归属:

互换性与技术测量基础是华东理工大学出版社于2005.12出版的中图分类号为 TG8 的主题关于 技术测量-高等学校-教材 ,互换性-理论-高等学校-教材 的书籍。