仪器与系统可靠性

前言第1章可靠性设计基础1.1概述1.2可靠性的基本概念1.3可靠性特征量1.3.1可靠度与不可靠度1.3.2失效率1.3.3可靠度函数的一般表达式1.3.4故障前平均工作时间1.3.5平均故障间隔时间1.4可靠性寿命分布1.4.1指数分布1.4.2威布尔分布1.4.3正态分布和对数正态分布1.4.4不同分布中可靠性特征量的选取原则1.5习题第2章可靠性模型2.1可靠性框图2.2模型的建立2.3几种典型结构的可靠性模型2.3.1串联结构2.3.2并联结构2.3.3K/N结构2.4三态系统的可靠性模型2.4.1三态系统的概念2.4.2串联结构2.4.3并联结构2.5习题第3章可靠性预计与分配3.1可靠性预计3.1.1元器件的可靠性预计3.1.2系统的可靠性预计3.2可靠性分配3.2.1指数分布的情况3.2.2等分配法3.2.3再分配法3.2.4AGREE分配法3.2.5拉格朗日乘子法3.3可靠性分配案例3.4习题第4章故障模式影响及危害性分析4.1基本术语4.2故障模式影响分析4.2.1故障影响分析4.2.2电子元器件的故障模式、失效机理和故障分析4.2.3故障检测方法分析4.2.4补偿措施分析4.2.5故障模式影响分析的实施4.3危害性分析4.3.1定性分析法4.3.2定量分析法4.3.3绘制危害性矩阵4.4故障模式影响和危害性分析结果4.4.1FMECA分析程序4.4.2FMECA报告4.5FMECA案例第5章故障树分析5.1故障树概念5.2故障树常用事件及其符号5.2.1故障树的事件符号5.2.2故障树的逻辑门符号5.3故障树的建立5.3.1原始故障树的建造5.3.2故障树的规范化5.3.3故障树的简化和模块分解5.4故障树定性分析5.4.1求最小割集的方法5.4.2定性评定故障树中的底事件5.5故障树定量分析5.5.1利用结构函数计算事件发生的概率5.5.2求顶事件发生概率的近似值5.5.3故障树的数学描述5.6重要度分析5.6.1概率重要度5.6.2关键重要度5.6.3结构重要度5.7故障树分析报告的主要内容5.8故障树分析案例5.9习题第6章电子系统的可靠性6.1电子元器件的可靠性6.2不同元器件的失效机理6.2.1电阻6.2.2电容6.2.3电感6.2.4继电器6.2.5半导体器件6.2.6集成电路6.3元器件的正确使用6.3.1分立半导体器件的使用6.3.2固定电阻和电位器6.3.3电容的选用6.3.4集成芯片的选择6.4潜在电路分析6.4.1潜在分析类型6.4.2网络树的构造6.4.3潜电路设计规则6.4.4案例研究6.5降额设计6.5.1降额的目的6.5.2降额方法的使用6.6可靠的电路设计6.6.1设计简化6.6.2采用标准部件和电路6.6.3瞬态和过应力保护6.7电路的容差分析6.7.1产生容差问题的原因6.7.2容差设计及分析方法6.8热设计6.8.1热设计的一般过程6.8.2常用冷却方法及选择6.8.3元器件的部件与安装6.8.4印制电路板的热设计6.9习题第7章可靠性试验7.1可靠性试验的分类7.2环境应力筛选试验7.3可靠性增长试验7.3.1可靠性增长试验的方式7.3.2可靠性增长模型7.4可靠性鉴定试验7.5可靠性验收试验7.5.1可靠性验收方案的确定7.5.2可靠性试验的数据分析与处理7.6习题参考文献

　　本书主要论述了与电子系统相关的可靠性设计基础，可靠性建模、预计与分配方法，电子仪器中常用电路的故障树分析方法，故障模式影响及危害性分析方法，以及可靠性试验方法，着重对电子系统的可靠性设计方法进行了阐述。本书是作者在总结多年教学经验的基础上撰写而成的。书中强调了基本理论的系统性与工程实用性的结合，突出理论联系实际的内容，并提出了一些实际的电子系统可靠性案例。　　本书可用作高等院校电子类专业本科生教材，也可供广大从事可靠性工程工作的工程技术人员和相关企业管理人员参考。