半导体激光器的光束质量研究

书籍简介:

半导体激光器现已成为光盘和光通信等信息产业的心脏。在光信息存储记录系统中，高的信息存储密度可通过缩小记录点的尺寸而实现，这就意味着半导体激光器的光束质量越好，系统的信息存储密度就越高。本书运用波导理论和非傍轴光束传输的 矢量矩理论对典型的GaAs/Ga0.7Al0.3As双异质结注入型半导体激光器和光信息存储用的重要光源GaInP/AlGaInP应变多量子阱激光器的光束质量进行了理论研究，着重考察了垂直于结平面方向上的光束质量因子 与有源层厚度的关系，给出了光束质量因子 <1的条件与有源层宽度的关系，给出了 <1的条件。在实验上，运用了一孔径为3 mm、数值孔径为1.25、100倍的油镜作无封装非傍轴非截取傍轴化的光学变换，测量了650 nm G aInP/AlGaInP应变多量子阱激光器的等效光束质量，揭示了半导体激光器具有光束质量因子小于1的本性。半导体激光器具有M2因子小于1的本性，对其应用带来了崭新的前景，在光信息记录应用领域可以进一步提高信息存储密度，在宽带光通信领域可以进一步提高光通讯的耦合效率等。

内容摘要:

书籍规格:

书籍信息归属:

半导体激光器的光束质量研究是中国农业出版社于2013.6出版的中图分类号为 TN248.4 的主题关于 半导体激光器－质量控制 的书籍。