电磁兼容（EMC）设计与测试之信息技术设备

第1篇 电磁兼容基础篇第1章 电磁兼容基础知识 （3）1.1 电磁兼容的定义及研究领域 （3）1.1.1 电磁兼容的定义 （3）1.1.2 电磁兼容的研究领域 （5）1.2 电磁干扰的危害 （11）1.2.1 强电磁场对人类健康的危害 （11）1.2.2 弱电磁场可能导致的危害 （12）1.3 电磁兼容测量常用的单位 （13）1.3.1 功率 （13）1.3.2 电压 （14）1.3.3 电流 （15）1.3.4 磁场强度与电场强度 （15）1.3.5 功率密度 （17）第2章 信息技术设备电磁兼容测量场地及测量设备 （19）2.1 信息技术设备电磁兼容测量场地 （19）2.1.1 开阔试验场 （19）2.1.2 电波暗室 （21）2.1.3 屏蔽室 （34）2.2 信息技术设备电磁骚扰测量设备 （36）2.2.1 测量接收机 （36）2.2.2 频谱分析仪 （37）2.2.3 人工电源网络 （37）2.2.4 阻抗稳定网络 （41）2.2.5 接收天线 （43）2.2.6 预选放大器、衰减器和脉冲限幅器 （47）2.2.7 电流探头 （49）2.2.8 容性电压探头 （51）2.2.9 谐波电流、电压波动闪烁测量系统 （51）2.3 信息技术设备电磁抗扰度测量设备 （54）2.3.1 静电放电发生器 （54）2.3.2 信号发生器 （56）2.3.3 功率放大器 （57）2.3.4 定向耦合器 （60）2.3.5 功率计 （61）2.3.6 发射天线 （62）2.3.7 场强测量仪 （62）2.3.8 电快速瞬变脉冲群发生器及耦合/去耦合网络 （65）2.3.9 浪涌组合波发生器及耦合/去耦合网络 （67）2.3.10 用于传导骚扰抗扰度测量的耦合/去耦合网络 （71）2.3.11 电压暂降、短时中断和电压变化试验信号发生器 （75）2.3.12 工频磁场试验发生器及感应线圈 （77）第3章 信息技术设备产品电磁兼容测量基本原理 （81）3.1 信息技术设备产品电磁骚扰测量基本原理 （81）3.1.1 骚扰限值的含义 （81）3.1.2 受试设备（EUT）的工作状态 （82）3.1.3 EUT配置的基本要求 （86）3.1.4 传导骚扰电压测量 （88）3.1.5 辐射骚扰场强测量 （92）3.2 信息技术设备产品电磁抗扰度测量的基本原理 （96）3.2.1 性能下降客观评价方法 （98）3.2.2 性能降低主观评价方法 （98）3.2.3 限值测量法 （99）3.2.4 抗扰度性能降低分类及试验结果的判别 （100）第2篇 电磁兼容测量篇第4章 标准介绍 （105）4.1 电磁兼容标准化组织 （105）4.1.1 EMC国际标准化组织 （105）4.1.2 中国EMC标准化组织 （106）4.2 国际、国内电磁兼容标准 （108）4.2.1 国际电磁兼容标准 （109）4.2.2 电磁兼容国家标准 （114）4.2.3 欧盟EMC指令 （117）4.3 信息技术设备类产品国际/国家标准介绍 （118）4.3.1 信息技术设备类产品无线电骚扰标准 （118）4.3.2 信息技术设备类产品无线电抗扰度标准 （119）4.4 信息技术设备类产品国际标准介绍 （120）4.4.1 信息技术设备类产品无线电骚扰标准 （120）4.4.2 信息技术设备类产品无线电抗扰度标准 （120）4.5 信息技术设备类产品国内外标准的关系和差异 （120）4.5.1 与国际标准的关系 （120）4.5.2 与国内标准的关系 （121）4.5.3 与国际标准的差异 （122）第5章 信息技术设备骚扰测量 （124）5.1 概述 （124）5.1.1 信息技术设备介绍 （126）5.1.2 骚扰测量EUT工作状态的选择 （127）5.1.3 EUT配置 （129）5.1.4 标准限值 （135）5.2 信息技术设备电源端传导骚扰电压 （138）5.2.1 限值应用 （139）5.2.2 试验设备 （140）5.2.3 试验布置 （141）5.2.4 试验方法 （145）5.2.5 测试结果表达 （146）5.3 信息技术设备电信端传导骚扰 （147）5.3.1 限值应用 （147）5.3.2 试验设备 （148）5.3.3 试验布置 （148）5.3.4 试验方法 （149）5.3.5 测试结果表达 （151）5.4 信息技术设备辐射骚扰场强（30～1000MHz） （151）5.4.1 限值应用 （151）5.4.2 试验设备 （153）5.4.3 试验布置 （154）5.4.4 试验方法 （154）5.4.5 测试结果表达 （156）5.5 信息技术设备辐射骚扰场强（1GHz以上） （156）5.5.1 限值应用 （158）5.5.2 试验设备 （158）5.5.3 试验布置 （159）5.5.4 试验方法 （159）5.5.5 测试结果表达 （160）第6章 信息技术设备抗扰度测量 （161）6.1 概述 （161）6.1.1 测试基本原理 （162）6.1.2 电磁危害和抗扰度的关系 （164）6.1.3 一般测量方法 （164）6.1.4 性能降低评价方法 （166）6.2 信息技术设备传导抗扰度 （167）6.2.1 试验原理 （167）6.2.2 性能判据 （168）6.2.3 项目适用性 （169）6.2.4 试验设备 （169）6.2.5 试验方法 （170）6.2.6 试验布置 （171）6.3 信息技术设备辐射抗扰度 （172）6.3.1 试验原理 （172）6.3.2 性能判据 （173）6.3.3 项目适用性 （174）6.3.4 试验设备 （174）6.3.5 试验方法 （174）6.3.6 试验布置 （175）6.4 信息技术设备静电放电抗扰度 （176）6.4.1 试验原理 （176）6.4.2 性能判据 （177）6.4.3 项目适用性 （177）6.4.4 试验设备 （178）6.4.5 试验方法 （178）6.4.6 试验布置 （179）6.5 信息技术设备电快速脉冲群抗扰度 （179）6.5.1 试验原理 （180）6.5.2 性能判据 （181）6.5.3 项目适用性 （181）6.5.4 试验设备 （182）6.5.5 试验方法 （182）6.5.6 试验布置 （182）6.6 信息技术设备浪涌（雷击）抗扰度 （183）6.6.1 试验原理 （184）6.6.2 性能判据 （185）6.6.3 项目适用性 （185）6.6.4 试验设备 （185）6.6.5 试验方法 （185）6.6.6 试验布置 （187）6.7 信息技术设备电压暂降、短时中断抗扰度 （188）6.7.1 试验原理 （188）6.7.2 性能判据 （189）6.7.3 项目适用性 （190）6.7.4 试验设备 （190）6.7.5 试验方法 （190）6.7.6 试验布置 （191）6.8 信息技术设备工频磁场抗扰度 （192）6.8.1 试验原理 （192）6.8.2 性能判据 （192）6.8.3 项目适用性 （193）6.8.4 试验设备 （193）6.8.5 试验方法 （193）6.8.6 试验布置 （194）第3篇 电磁兼容设计与对策篇第7章 信息技术设备传导发射设计与整改要点 （199）7.1 信息技术设备传导骚扰的形成原因和设计思想 （199）7.1.1 信息技术设备内部传导骚扰形成的机理 （199）7.1.2 信息技术设备内部传导骚扰的来源 （200）7.1.3 信息技术设备电源端传导测试失败的原因 （201）7.1.4 信息技术设备电源端传导骚扰的传输路径 （202）7.1.5 信息技术设备交流电源端的滤波电路 （204）7.2 信息技术设备内部滤波技术的应用 （205）7.2.1 滤波器的分类 （205）7.2.2 滤波器的参数 （206）7.2.3 滤波电路的设计 （208）7.2.4 信息技术设备滤波器的选择 （210）7.2.5 信息技术设备滤波器的安装 （211）7.3 信息技术设备传导骚扰测试整改实例 （212）7.3.1 液晶显示器滤波电路位置不当造成电源端子骚扰电压超标的整改案例 （212）7.3.2 触摸屏滤波器安装不当造成电源端骚扰超标的整改案例 （214）7.3.3 某型号LED显示屏的传导整改案例 （215）7.3.4 两台机柜之间产生的电磁骚扰解决办法 （216）第8章 信息技术设备辐射发射设计与整改要点 （219）8.1 信息技术设备传导骚扰的形成原因和设计思想 （219）8.1.1 信息技术设备辐射骚扰的形成机理 （219）8.1.2 信息技术设备辐射骚扰场强测试超标时问题部位的确定 （220）8.1.3 信息技术设备辐射骚扰场强超标的原因分析 （220）8.1.4 寄生参数对于信息技术设备EMC性能的影响 （222）8.1.5 信息技术设备中常见的发射天线模型 （224）8.2 信息技术设备通过辐射骚扰场强测试的措施 （226）8.2.1 信息技术设备金属机箱问题的解决 （226）8.2.2 信息技术设备非金属机箱问题的解决 （226）8.2.3 信息技术设备线缆问题的解决 （226）8.3 信息技术设备辐射骚扰测试整改实例 （228）8.3.1 计算机信号线走线方向不合理造成辐射骚扰超标的整改案例 （228）8.3.2 计算机互连电缆引起的辐射骚扰超标整改案例 （230）8.3.3 某型号LED显示屏的辐射骚扰场强整改案例 （230）8.3.4 利用扩频调制技术进行辐射骚扰场强整改的实例 （232）第9章 信息技术设备的快速瞬变脉冲群防护 （236）9.1 信息技术设备快速瞬变脉冲群的发生 （236）9.1.1 快速瞬变脉冲群产生的原因 （236）9.1.2 快速瞬变脉冲群带来的危害 （237）9.2 信息技术设备快速瞬变脉冲群试验失败原因分析 （237）9.2.1 从干扰施加方式上分析 （237）9.2.2 从干扰传输方式上分析 （238）9.2.3 根据快速瞬变脉冲群干扰造成设备失效的机理分析 （239）9.3 信息技术设备快速瞬变脉冲群的防护 （240）9.3.1 抑制快速瞬变脉冲群干扰的一般对策 （240）9.3.2 快速瞬变脉冲群干扰传输环路 （241）9.3.3 针对电源线试验的措施 （241）9.3.4 针对信号线试验应采取的措施 （243）9.3.5 其他端口的防护措施 （244）第10章 信息技术设备的浪涌（雷击）防护 （246）10.1 信息技术设备浪涌（雷击）的发生 （246）10.1.1 浪涌（雷击）产生的原因 （246）10.1.2 浪涌（雷击）带来的危害 （246）10.1.3 信息技术设备雷击浪涌分析 （247）10.2 信息技术设备的浪涌（雷击）防护 （248）10.2.1 常见的防护器件 （248）10.2.2 大能量脉冲的防护思路 （249）10.2.3 信息技术设备防雷击浪涌的设计 （250）参考文献 （252）

本书对电磁兼容基础知识进行了简要介绍，重点针对信息技术设备的电磁兼容测量标准及电磁骚扰和电磁抗扰度的测量原理、测量设备、试验布置、试验方法及结果评价等内容进行详细介绍，并针对容易出现电磁兼容问题的传导发射设计、射频辐射发射设计、电快速瞬变脉冲群防护设计、浪涌（雷击）防护设计等方面分析产生问题的原因并提出有针对性的解决方法，再通过大量的实例进行了详细的讲解，让初学者对电磁兼容概念、测量和设计有一个初步的了解和认识，也为大家进一步深入研究电磁兼容技术打下基础。【作者简介】全国电磁兼容标准化技术委员会（SAC/TC264）委员、全国线电干扰标准化委员会A分会（SAC/TC79/SC1）委员、全国线电干扰标准化委员会I分会（SAC/TC79/SC7）委员、中国制造工艺协会电子分会电磁兼容制造专业委员会副主任委员、中国认证认可监督管理委员会电磁兼容专家组（CNCA-TC10）委员、全国质量监管重点产品检验方法标委会IT一组（SAC/TC374/WG37）委员、IECEE中国国家认证机构电磁兼容专家工作组（CQC-ETF10）组长、中国质量认证中心（CQC）技术委员会检测技术分委会委员、科技部国际科技合作计划评价同行专家（编号：P103919）、广东省保密技术专家委员会委员