系统芯片SoC的设计与测试

系统芯片SoC的设计与测试

潘中良, 著

出版社:科学出版社

年代:2009

定价:40.0

书籍简介:

本书对系统芯片SoC的设计与测试技术进行了全面阐述。全书共分为16章,主要内容包括:系统芯片的设计模式与流程、系统芯片的总线结构、IP芯核的设计、软/硬件协同设计、系统芯片的存储系统设计、系统芯片的低功耗耗设计、系统芯片的验证、系统芯片的物理设计、系统芯片的可测性设计、信号完整性、数字逻辑芯核的测试、模拟与混合信号芯核的测试、嵌入式存储器的测试、测试调度与测试结构的优化设计、系统芯片设计实例:多媒体IP芯核、网络芯片(NoC)。本书不仅介绍了系统芯片的设计与测试领域的最新发展,同时也包括了作者多年来的科研工作成果。

书籍目录:

前言

第1章绪论

1.1集成电路的设计流程

1.2系统芯片的结构

1.3系统芯片的关键技术

1.3.1设计复用

1.3.2低功耗设计

1.3.3软硬件协同设计

1.3.4总线架构

1.3.5可测性设计

1.3.6设计验证

1.3.7物理综合

第2章系统芯片的设计模式与流程

2.1系统芯片的系统级设计

2.2系统芯片的设计流程

2.3系统芯片的设计方法学

第3章系统芯片的总线结构

3.1AMBA总线

3.1.1先进高性能总线

3.1.2先进系统总线

3.1.3先进外设

内容摘要:

  本书共15章,内容包括:系统芯片的设计模式与流程、系统芯片的总线结构、芯核设计、软硬件协同设计、系统芯片的存储系统设计、系统芯片中模拟/混合信号的设计、系统芯片的低功耗设计、信号完整性、系统芯片的验证、系统芯片的可测性设计、测试调度与测试结构的优化设计、芯核的测试、系统芯片的物理设计、片上网络等。  本书可作为电子、通信、计算机、自动控制等学科高年级本科生和研究生的教材。  系统芯片SoC能实现一个系统的功能,它是从整个系统的功能和性能出发,采用软硬结合的设计和验证方法,利用芯核复用及深亚微米

书籍规格:

书籍详细信息
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9787030256720
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出版地北京出版单位科学出版社
版次1版印次1
定价(元)40.0语种简体中文
尺寸24 × 0装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

系统芯片SoC的设计与测试是科学出版社于2009.出版的中图分类号为 TN402 的主题关于 集成电路-芯片-设计 的书籍。