片上系统设计

片上系统设计

(美) 里卡多 (Ricardo,R.) 等, 编著

出版社:科学出版社

年代:2006

定价:44.0

书籍简介:

在业界,片上系统的研究由来已久,至今仍然保持着很强的生命力,并且越发活跃。该学科涉及面相当广泛,牵涉到半导体物理、电路涉及理论、仿真软件、算法等各方面,其应用也渗透到电子、通信、控制等的所有方面。该书很全面,包括数字系统设计CAD、集成电路容错设计、片上系统可靠性、FPGAs等等。此外,该书适应面广,无论对于该学科的专家、教授、研究生,还是本科生、普通技术人员都有极大的参考价值。

书籍目录:

"1.DesignofSystemsonaChip:Introduction

MarceloLubaszewski,RicardoReis,andJochenA.G.Jess

2.MicrosystemsTechnologyandApplications

J.MalcolmWilkinson

3.CoreArchitecturesforDigitalMediaandtheAssociated

CompilationTechniques

JochenA.G.Jess

4.Past,PresentandFutureofMicroprocessors

FrancoisAnceau

5.PhysicalDesignAutomation

RicardoReis,JoseLuisGuntzel,andMarceloJohann

6.BehavioralSynthesis:AnOverview

ReinaldoA.Bergamaschi

7.Hardware/SoftwareCo-design

A.Jerraya,J.M.Daveau,G.Marchioro,C.Valderrama,M.Romdhani,

T.Benlsmail,N.E.Zergainoh,F.Hessel,P.Coste,Ph.LeMarrec,

A.Baghdadi,andL.Gauthier

8.TestandDesign-for-Test:FromCircuitstoIntegratedSystems

MarceloLubaszewski

9.SynthesisofFPGAsandTestableASICs

DonW.Bouldin

10.TestableDesignandTestingofMicrosystems

HansG.Kerkhoff

11.EmbeddedCore-basedSystem-on-ChipTestStrategies

YervantZorian

IndexofAuthors

"

内容摘要:

  本书是国外电子信息精品著作。全书介绍了芯片核心设计、计算机辅助设计工具、芯片测试方法三个方面,尤其针对基于SRAM的可编程门阵列(FPGA)相关的容错技术设计和可测性设计进行了重点的讨论。本书以FPGA芯片为例,提出了故障模型和可编程芯片结构中故障造成的严重影响,介绍了现今采用的主要容错设计技术。对于国内芯片可测性设计和分析、电路容错设计、FPGA芯片设计等领域来说,是一部很有价值的参考书。  片上系统的研究由来已久,至今仍然保持着很强的生命力,并且越发活跃。该学科涉及面相当广泛,牵涉半导体物理、电路设计理论、仿真软件、算法等各方面,其应用也渗透到电子、通信、控制等方面。本书内容新颖,实例丰富,全书介绍了芯片核心设计、计算机辅助设计工具、芯片测试方法三个方面,尤其针对基于SRAM的可编程门阵列(FPGA)相关的容错技术设计和可测性设计进行了重点的讨论。本书以FPGA芯片为例,提出了故障模型和可编程芯片结构中故障造成的严重影响,介绍了现今采用的主要容错设计技术,并对基于SRAM的F’PGA芯片相关的容错设计实例进行分析和研究。本书对于国内芯片可测性设计和分析、电路容错设计、FPGA芯片设计等领域来说,是一部很有价值的参考书。该书适应面广,无论对于该学科的专家、教授、研究生,还是本科生、普通技术人员都有极大的参考价值。

书籍规格:

书籍详细信息
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丛书名国外电子信息精品著作
9787030182395
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出版地北京出版单位科学出版社
版次影印本印次1
定价(元)44.0语种英文
尺寸24装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

片上系统设计是科学出版社于2007.01出版的中图分类号为 TN402 的主题关于 集成电路-芯片-设计-英文 的书籍。