互换性与测量技术

互换性与测量技术

张远平, 主编

出版社:西安电子科技大学出版社

年代:2017

定价:30.0

书籍简介:

本书按照最新国家标准编写,内容涵盖互换性的基本知识与概念、极限与配合、几何量计量基础及技术、几何公差与检测、表面粗糙度应用与检测、量规设计、标准件及圆锥结合的公差与检测、圆柱齿轮的公差与检测、设计尺寸链解算基础等。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787560644875
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出版地西安出版单位西安电子科技大学出版社
版次1版印次1
定价(元)30.0语种简体中文
尺寸26 × 19装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

互换性与测量技术是西安电子科技大学出版社于2017.4出版的中图分类号为 TG801 的主题关于 零部件-互换性 ,零部件-测量技术 的书籍。