出版社:西安出版社
年代:2012
定价:28.0
本书是专业学术研究性著作,理论联系实际,解决书中所提课题。
书籍详细信息 | |||
书名 | 超深亚微米铜互连的失效机理与可靠性概述站内查询相似图书 | ||
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出版地 | 西安 | 出版单位 | 西安出版社 |
版次 | 1版 | 印次 | 1 |
定价(元) | 28.0 | 语种 | 简体中文 |
尺寸 | 13 × 10 | 装帧 | 平装 |
页数 | 印数 |
超深亚微米铜互连的失效机理与可靠性概述是西安出版社于2012.5出版的中图分类号为 TN405.97 的主题关于 集成电路工艺-互连工艺 的书籍。
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