单板级JTAG测试技术

书籍简介:

本书主要内容包括：基本概念、IEEE1149.X标准、单板级可测性设计、边界扫描测试应用、内建自测试技术、处理器测试技术、嵌入式测试技术。本书适合于相关领域工程技术人员阅读，也可作为高等院校电子信息、通信、测试测控、自动化等专业高年级学生或研究生的教学参考书。

书籍规格:

书籍信息归属:

单板级JTAG测试技术是国防工业出版社于2015.6出版的中图分类号为 TN407 的主题关于 集成电路－测试技术 的书籍。