出版社：西安交通大学出版社
年代：2019
定价：48.0
本书简要介绍了相变存储器的基本原理及其发展，介绍了Sb-Te二元和Sb2Te3-GeTe伪二元合金的相图及结构、热物理性能的基本理论和已有的研究进展，详细介绍了热带法测量热传导、四探针法测量电传导以及静滴法测量密度技术的建立。介绍了下一代相变存储器用材料Ge-Sb-Te的热物理性能测量，主要包括热传导性能、电传导性能及密度。并结合热传导和电传导的数据，对Ge-Sb-Te合金的传导机理进行了讨论，给出了预测公式。
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | 相变存储材料Ge-Sb-Te合金的热物理性能及其测量技术站内查询相似图书 | ||
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| 出版地 | 西安 | 出版单位 | 西安交通大学出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 48.0 | 语种 | 英文 |
| 尺寸 | 24 × 17 | 装帧 | 平装 |
| 页数 | 印数 | ||
相变存储材料Ge-Sb-Te合金的热物理性能及其测量技术是西安交通大学出版社于2019.12出版的中图分类号为 TP333.4 的主题关于 相变－光存贮器－热物理性质－测量技术－研究－英文 的书籍。