出版社:化学工业出版社
年代:2016
定价:128.0
本书分别对X射线的物理基础、X射线的激发、色散、特殊性质、基体效应、背景与光谱重叠、探测与测量、波长色散与能量色散光谱仪、同步辐射、全反射X射线荧光分析及微束X射线荧光显微分析、样品制备、定性与定量分析、薄膜化学组成与厚度的测定、误差与统计分析及应用等作了系统的介绍,并在附录中列举了X射线荧光光谱分析常用的物理常数、数据、图表等参考资料,方便读者查阅。
书籍详细信息 | |||
书名 | 实用X射线光谱分析站内查询相似图书 | ||
9787122279590 如需购买下载《实用X射线光谱分析》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息,请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN | |||
出版地 | 北京 | 出版单位 | 化学工业出版社 |
版次 | 1版 | 印次 | 1 |
定价(元) | 128.0 | 语种 | 简体中文 |
尺寸 | 24 × 17 | 装帧 | 精装 |
页数 | 印数 |
实用X射线光谱分析是化学工业出版社于2016.10出版的中图分类号为 O657.34 的主题关于 X射线荧光光谱法-荧光分析 的书籍。