仪控老化及可靠性技术

仪控老化及可靠性技术

陈永伟, 编著

出版社:中国原子能出版社

年代:2020

定价:50.0

书籍简介:

为了对广泛开展的仪控设备老化管理提供参考和借鉴,故编制此书。本书共九章,第一章,引言,阐述国内外在仪控设备领域所面临的严峻挑战,以及国家标准及规范对老化管理的要求和规定。第二章,老化机理,阐述仪控设备常见典型的老化机理和失效模式。第三章,老化分级,详细阐述了工程上常用的老化分级模型。第四章,可靠性,阐述了可靠性指标及常用的老化概率分布。第五章,老化寿命,阐述了可靠性理论和技术以及老化寿命的评估方法。第六章,老换策略,阐述针对老化机理和特点如何有效制定相应的老化策略。第七章,老化更换,阐述根据不同考量因素(成本、可靠性和可用性等)制定相应的老化更换模型。第八章,老化检测,阐述当今较为成熟和有效的老化检测方法和检测技术手段。第九章,老化数据库,阐述如何建立老化数据库以及通过老化数据库管控老化实施流程以及规范老化管理活动。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787522105208
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出版地北京出版单位中国原子能出版社
版次1版印次1
定价(元)50.0语种简体中文
尺寸26 × 19装帧平装
页数 206 印数 2000

书籍信息归属:

仪控老化及可靠性技术是中国原子能出版社于2020.4出版的中图分类号为 TH7 的主题关于 仪器-控制设备-老化 ,仪表-控制设备-老化 ,仪器-控制设备-可靠性 ,仪表-控制设备-可靠性 的书籍。