典型物联网环境下RFID防碰撞及动态测试关键技术

典型物联网环境下RFID防碰撞及动态测试关键技术

俞晓磊, 著

出版社:科学出版社

年代:2015

定价:78.0

书籍简介:

由于物联网应用环境中的温度变化、噪声、物理介质等对RFID系统识读性能的影响以及所引起的RFID读写设备故障,很大程度上影响到RFID技术的大规模应用。因此,面向实际应用环境的RFID测试技术成为RFID产品研发和应用实施过程中的重要技术保障。本书创新性的提出一种将安装多个高精度光电传感器的物流传输线(硬件)与防碰撞检测算法(软件)相结合的RFID系统动态检测方法,提出了模拟典型物联网环境下基于光电传感技术的RFID动态性能检测平台研制方案,通过给系统施加背景噪声、电路干扰、电磁干扰等信号,检测RFID系统在多种复杂外部干扰下的各种动态性能,并结合理论模型完成对RFID系统通信可靠性的全面评估。其关键技术在于利用射频、信号处理、控制、软件等技术手段产生仿真信号和各种干扰源,用信号模拟的方式来构造测试环境,通过对典型信号、干扰信号分别建模,利用软件和硬件控制,产生典型的测试信号,完成对物联网实际使用环境的模拟以及防碰撞、抗干扰等RFID动态检测新技术理论和实验研究。本书围绕典型物联网环境下的RFID产品性能检测问题开展若干基础性研究论述,立足物联网战略性新兴产业的理论、技术、检测、标准等基础性研究,论著的核心内容围绕具有自主知识产权的典型物联网环境下基于光电传感技术的RFID动态性能检测系统样机研制展开,代表了RFID动态检测领域国内的最新方向和前沿技术。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787030463623
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出版地北京出版单位科学出版社
版次1版印次1
定价(元)78.0语种简体中文
尺寸24 × 17装帧平装
页数 213 印数

书籍信息归属:

典型物联网环境下RFID防碰撞及动态测试关键技术是科学出版社于2015.11出版的中图分类号为 TN911.23 的主题关于 无线电信号-射频-信号识别-安全技术 的书籍。