现代电子系统软错误

现代电子系统软错误

(法) 尼古拉季斯 (Nicolaidis,M.) , 主编

出版社:电子工业出版社

年代:2016

定价:59.0

书籍简介:

本书系统性阐述了软错误发生的复杂物理过程,共分10章。第1章介绍软错误研究历史和未来发展趋势。第2章介绍单粒子效应发生机制与分类。第3章介绍JEDEC标准。第4章介绍了门级建模与仿真。第5章介绍了电路级和系统级单粒子效应建模与仿真。第6章介绍了硬件故障注入。第7章介绍了如何采用加速测试与错误率预估技术,评估验证面向空间或地面环境的集成电路。第8章介绍了电路级软错误抑制技术。第9章介绍了软件级软错误抑制技术。第10章介绍了高可靠电子系统软错误性能的技术指标与验证方法。

书籍规格:

书籍详细信息
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丛书名国防电子信息技术丛书
9787121290978
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出版地北京出版单位电子工业出版社
版次1版印次1
定价(元)59.0语种简体中文
尺寸26 × 19装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

现代电子系统软错误是电子工业出版社于2016.7出版的中图分类号为 TN103 的主题关于 电子系统-研究 的书籍。