超大规模集成电路测试

书籍简介:

VLSI测试包括数字、存储器和混合信号三类电路测试，本书系统地介绍了这三类系统的测试和可测试性设计。全书共分三个部分。第一部分是测试基础，介绍了测试基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、基于DSP和基于模型的模拟与混合信号测试、延迟测试和IDDQ测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、边界扫描测试、模拟测试总线标准和基于IP芯核的SOC测试。

书籍规格:

书籍信息归属:

超大规模集成电路测试是电子工业出版社于2005.07出版的中图分类号为 TN470.7 的主题关于 超大规模集成电路－测试－教材 的书籍。