出版社：中国科学技术出版社
年代：2004
定价：15.0
本书主要论述了如何对半导体器件内部、外部缺陷进行观察判断，并对相关经验进行了总结。
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | 半导体器件典型缺陷分析和图例站内查询相似图书 | ||
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| 出版地 | 北京 | 出版单位 | 中国科学技术出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 15.0 | 语种 | 简体中文 |
| 尺寸 | 20 | 装帧 | 平装 |
| 页数 | 印数 | 2000 | |
半导体器件典型缺陷分析和图例是中国科学技术出版社于2004.05出版的中图分类号为 TN389 的主题关于 半导体器件－缺陷－分析 的书籍。
傅英, 陆卫, 著
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孟庆巨, 编著
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