材料组织结构的表征

绪论 第1篇 金相显微术第1章 金相显微镜的光学基础与构造 1．1 光学基础 1．1．1 反射和折射定律 1．1．2 光的性质和可视性 1．1．3 偏振光 1．1．4 光的衍射和干涉 1．1．5 几何光学 1．2 透镜的光学缺陷和设计 1．2．1 透镜光学缺陷 1．2．2 透镜的设计和特性 1．3 照明方式 1．3．1 科勒照明 1．3．2 明场照明 1．3．3 暗场照明 1．3．4新型无限远光学系统 1．4 性能参数 1．4．1 衍射与分辨率 1．4．2 有效放大倍率 1．4．3 景深 1．4．4工作距离和视域范围 1．5 图像记录和处理及分析 1．5．1 显微照相 1．5．2 视频显微术 1．5．3 数字CCD显微术 1．5．4 图像处理与定量分析 1．6 金相显微镜的操作 1．6．1 光源的调整 1．6．2 光阑的调整第2章 金相试样的制备 2．1 金相试样的制备步骤 2．1．1 取样和镶嵌 2．1．2 研磨与抛光 2．1．3 浸蚀 2．1．4 现代金相样品制备技术概述 2．2 常用浸蚀剂显示金相组织举例 2．2．1 硝酸酒精浸蚀剂 2．2．2 苦味酸浸蚀剂 2．2．3 LB染色浸蚀剂 2．2．4 Klemm浸蚀剂 2．2．5 Ber’aha浸蚀剂 2．2．6 Lepera浸蚀剂 第3章 相位衬度显微镜 3．1 相位衬度显微术原理 3．2 相衬显微镜的光学设计 3．3 金相显微镜和生物显微镜光学布置的差异第4章 偏振光显微镜 4．1 偏振光的反射特征 4．2 反射式偏振光显微镜的光学布置和使用 4．3 应用举例 4．3．1 各向异性组织的显示 4．3．2 非金属夹杂物的鉴别 4．3．3 复合夹杂物的定性鉴别第5章 微分干涉衬度显微镜 5．1 DIC光学系统 5．2 DIC图像的形成 5．3 DIC图像与其他成像方式图像的比较第6章 共聚焦激光扫描显微镜 6．1 共聚焦成像的光学原理 6．2 影响共聚焦图像质量因素 6．3 共聚焦显微镜的功能和应用 第2篇 x射线衍射分析第7章 x射线物理学基础 7．1 X射线衍射分析发展简史 7．2 X射线本质及其波谱 7．2．1 X射线本质 7．2．2 X射线谱 7．3 X射线与物质相互作用 7．3．1 X射线散射 7．3．2 X射线真吸收 7．3．3 X射线衰减规律 7．3．4 X射线吸收效应的应用 7．4 X射线防护第8章 x射线衍射方向 8．1 晶体几何学 8．1．1 晶体结构- 8．1．2 晶体投影 8．1．3 倒易点阵 8．2 布拉格方程 8．2．1 布拉格方程 8．2．2 布拉格方程的讨论 8．2．3 倒易空间中的衍射条件 8．3 厄瓦尔德图解 8．3．1 厄瓦尔德图解 8．3．2 厄瓦尔德图解示例 第9章 x射线衍射强度 9．1 单个晶胞散射强度 9．1．1 单个电子散射强度 9．1．2 单个原子散射强度 9．1．3 单个晶胞散射强度 9．2 单个理想小晶体散射强度 9．2．1 干涉函数 9．2．2 衍射畴 9．3 实际多晶体衍射强度 9．3．1 实际小晶粒积分衍射强度 9．3．2 实际多晶体衍射强度 9．3．3 多晶体衍射强度计算方法第10章 x射线衍射方法 10．1 相照法 10．1．1 德拜一谢乐法 10．1．2 聚焦法 10．1．3针孔法 10．2 衍射仪法 10．2．1 测角仪 10．2．2 计数器 10．2．3 单色器 10．3 测量条件 10．3．1 试样要求 10．3．2 影响测量结果的因素 10．3．3 测量条件示例第11章 多晶物相分析 11．1 标准卡片及其索引 11．1．1 卡片介绍 11．1．2 索引方法 11．2 定性物相分析 11．2．1 手工检索 11．2．2 计算机检索 11．2．3 其他问题 11．3 定量物相分析 11．3．1 基本原理 11．3．2 分析方法 11．3．3 其他问题第12章 晶体结构与点阵参数分析 12．1 晶体结构识别 12．1．1 基本原理 12．1．2 立方晶系指标化 12．1．3 其他问题 12．2 点阵参数测定 12．2．1 德拜法误差来源 12．2．2 衍射仪法误差来源 12．2．3 消除系统误差方法 12．3 晶体结构模型分析 12．3．1 原理与方法 12．3．2 其他问题第13章 应力测量与分析 13．1 测量原理 13．1．1 内应力分类 13．1．2 测量原理 13．2 测量方法 13．2．1 测量方式 13．2．2 试样要求- 13．2．3 测量参数 13．3 数据处理方法 13．3．1 衍射峰形处理 13．3．2 定峰方法 13．3．3 误差分析 13．4 三维应力及薄膜应力测量 13．4．1 三维应力测量 13．4．2 薄膜应力测量第14章 衍射谱线形分析 14．1 谱线宽化效应及卷积关系 14．1．1 几何宽化效应 14．1．2 物理宽化效应 14．1．3 谱线卷积关系 14．2 谱线宽化效应分离 14．2．1 强度校正与K。双线分离 14．2．2 几何宽化与物理宽化的分离 14．2．3 细晶宽化与显微畸变宽化的分离 14．3 非晶材料x射线分析 14．3．1 径向分布函数 14．3．2 结晶度计算 14．4 小角X射线散射分析 14．4．1 基本原理 14．4．2 吉尼叶公式及应用第15章 多晶织构测量和单晶定向 15．1 多晶体织构测量 15．1．1 织构分类 15．1．2 极图及其测量 15．1．3 反极图及其测量 15．1．4 三维取向分布函数 15．2 单晶定向 15．2．1 单晶劳厄相的特点 15．2．2 单晶定向方法 第3篇 电子显微分析第16章 透射电子显微镜的原理和构造 16．1 入射电子在固体样品中所激发的信号及其体积 16．1．1 激发的信号 16．1．2 电子柬激发体积 16．2 透射电子显微镜的构造 16．2．1 电子波长 16．2．2 电子透镜 16．3 成像方式和变倍原理 16．4 透射电子显微镜的理论分辨本领极限第17章 透射电子显微镜的样品制备 17．1 表面复型技术概述 17．2 质厚衬度原理 17．2．1 单个原子对入射电子的散射 17．2．2 质厚衬度成像原理 17．3 一级复型与二级复型 17．3．1 塑料一级复型 17．3．2 碳一级复型 17．3．3 塑料一碳二级复型 17．4 抽取复型 17．5 粉末样品． 17．6 薄膜样品的制备方法 17．6．1 直接制得薄膜样品 17．6．2 大块晶体样品制成薄膜的技术 17．6．3 聚焦离子束方法第18章 电子衍射和衍衬成像 18．1 电子衍射与X射线衍射的比较 18．2 衍射产生的条件 18．3 电子衍射几何分析公式及相机常数 18．4 选区电子衍射的原理及操作 18．5 多晶电子衍射花样的标定及其应用 18．5．1 多晶衍射花样的产生及几何特征 18．5．2 多晶电子衍射花样的主要应用 18．6 单晶电子衍射花样的分析 18．6．1 单晶电子衍射花样的几何特征和强度 18．6．2 单晶电子衍射花样的标定方法 18．6．3 单晶电子衍射花样的应用 18．7 复杂电子衍射花样的特征和识别 18．7．1 高阶劳厄区斑点 18．7．2 超点阵斑点 18．7．3 孪晶衍射花样 18．7．4 二次衍射斑点 18．7．5 菊池衍射花样 18．8 衍射衬度成像原理及应用 18．8．1 透射电子像衬度的分类 18．8．2 衍衬成像的方法和原理 18．8．3 衍衬运动学理论 18．8．4 衍衬成像的应用举例 18．8．5 透射电子显微镜动态观察第19章 分析电子显微镜 19．1 分析电子显微镜特点 19．2 高分辨电子显微术的基本原理 19．2．1 电子散射和傅里叶变换 19．2．2 高分辨像形成过程描述的两个重要函数 19．2．3 谢尔策欠焦 19．2．4 弱相位体高分辨像的直接解释 19．3 薄膜样品的X射线能谱分析 19．3．1 薄样品分析原理 19．3．2 薄样品厚度的判据 19．3．3 薄样品的空间分辨率 19．3．4 薄样品的检测灵敏度 19．4 微衍射花样与会聚束电子衍射 19．4．1 微衍射花样 19．4．2 会聚束电子衍射 19．4．3 电子能量损失谱 19．4．4 分析电子显微术应用举例 19．4．5 分析电子显微镜的进展及其分析新技术简介第20章 扫描电子显微镜 20．1 扫描电子显微镜的工作原理和构造 20．1．1 工作原理 20．1．2 构造 20．2 扫描电子显微镜的像衬度原理及其应用 20．2．1 表面形貌衬度的原理 20．2．2 表面形貌衬度改善的电子减速技术 20．2．3 原于序数衬度原理 20．2．4 二次电子和背散射电子任意混合的ExB技术 20．2．5 扫描透射电子显微术 20．3 电子背散射衍射分析及其应用 20．3．1 背散射电子衍射工作原理和仪器结构 20．3．2 电子背散射花样晶体取向和织构分析原理 20．3．3 晶体取向的EBSD测定举例第21章 电子探针X射线显微分析仪 21．1 电子探针的分析原理和构造 21．1．1 分析原理 21．1．2 构造 21．2 电子探针的分析方法和应用 21．2．1 分析方法 21．2．2 定量分析基本原理简介 21．2．3 应用思考题与练习题附录参考文献

戎咏华和姜传海编著的《材料组织结构的表征》重点介绍三种实验技术的原理、仪器的结构、功能特点和应用，力求在内容上体现分析技术的最新发展，在理论与原理上阐述深入浅出，在分析方法上尽量结合实例，以期通过本课程学习使学生和读者对三种分析方法有一个较全面的了解，并能合适地选择和运用这些技术解决他们在研究中遇到的问题。 《材料组织结构的表征》分为三篇，共21章。其中，第一篇为《金相显微术》，第二篇为《X射线衍射分析》，第三篇为《电子显微分析》。 戎咏华和姜传海编著的《材料组织结构的表征》重点介绍三种实验技术的原理、仪器的结构、功能特点和应用，体现了分析技术的最新发展，在理论与原理上进行了深入浅出的阐述，以帮助学生和读者对三种分析方法有一个全面的了解和掌握。 本书既可以作为本科生和研究生教材，也可供从事相关工作的教师和技术人员参考。