出版社：机械工业出版社
年代：2011
定价：38.0
本书主要包括材料X射线衍射分析和材料电子显微分析两大部分。书中介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。其内容包括：X射线物理学基础、X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法、物相分析及点阵参数精确测定、宏观残余应力的测定、多晶体织构的测定、电子光学基础、透射电子显微镜、电子衍射、晶体薄膜衍衬成像分析、高分辨透射电子显微术、扫描电子显微镜、电子背散射衍射分析技术、电子探针显微分析、其他显微结构分析方法及实验指导。
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | 材料分析方法站内查询相似图书 | ||
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| 出版地 | 北京 | 出版单位 | 机械工业出版社 |
| 版次 | 3版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 38.0 | 语种 | 简体中文 |
| 尺寸 | 26 × 19 | 装帧 | 平装 |
| 页数 | 407 | 印数 | 3000 |
材料分析方法是机械工业出版社于2011.6出版的中图分类号为 TB3 的主题关于 工程材料－分析方法－高等学校－教材 的书籍。