嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析

嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析

武晔卿, 王广辉, 彭耀光, 编著

出版社:北京航空航天大学出版社

年代:2015

定价:39.0

书籍简介:

本书介绍了嵌入式系统设计中,哪些地方最可能带来可靠性隐患,以及从设计上如何进行预防。内容包括:启动过程和稳态工作中的应力状态差别等可靠性基础知识及方法;降额参数和降额因子的选择方法;风扇和散热片的定量化计算选型和测试方法、结构和电路的热设计规范;PCB板布线布局、系统结构的电磁兼容措施;电子产品制造过程中的失效因素(包括EOS、ESD、MSD等)及预防、检验方法;可维修性设计规范、可用性设计规范、安全性设计规范、接口软件可靠性设计规范等方面的技术内容。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787512418943
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出版地北京出版单位北京航空航天大学出版社
版次2版印次1
定价(元)39.0语种简体中文
尺寸24 × 17装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析是北京航空航天大学出版社于2015.10出版的中图分类号为 TP360.21 的主题关于 微型计算机-系统设计 的书籍。