出版社：西北工业大学出版社
年代：2015
定价：30.0
本书对系统可编程器件自动编程与测试的关键技术进行了分析和讨论，介绍了针对可编程单元测试的编程资源测试技术、基于可测性设计的逻辑资源测试技术、针对逻辑电路测试向量生成的“功能测试生成算法”以及保证测试向量和测试程序开发效率和质量的《可编程器件测试技术规范》，最后介绍了研究结论并进行结果分析。
;
《Lattice可编程器件测试技术》从工程实际应用出发，对Lattice可编程器件自动编程与测试的关键技术进行了分析和讨论。主要内容包括针对可编程单元测试的编程资源测试技术、基于可测性设计的逻辑资源测试技术、针对逻辑电路测试向量生成的功能测试生成算法、保证测试向量和测试程序开发效率和质量的可编程器件测试技术规范、研究绪论及结果分析等。
《Lattice可编程器件测试技术》可供相关工程技术人员、科研人员参考，也可作为高等学校有关专业教材或教学参考书。
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | Lattice可编程器件测试技术站内查询相似图书 | ||
| 9787561242537 《Lattice可编程器件测试技术》pdf扫描版电子书已有网友提供下载资源链接 | |||
| 出版地 | 西安 | 出版单位 | 西北工业大学出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 30.0 | 语种 | 简体中文 |
| 尺寸 | 23 × 17 | 装帧 | 平装 |
| 页数 | 印数 | ||
Lattice可编程器件测试技术是西北工业大学出版社于2015.1出版的中图分类号为 TP332.1 的主题关于 可编程序逻辑器件－测试技术 的书籍。