互换性与技术测量

互换性与技术测量

邢闽芳, 主编

出版社:清华大学出版社

年代:2017

定价:38.0

书籍简介:

全书共分8章,内容包括:绪论、轴和孔结合的极限与配合,测量技术基础,几何公差及检测,表面粗糙度及其检测,光滑工件尺寸检测和量规设计,零件典型表面的公差配合与检测,尺寸链。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787302466437
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出版地北京出版单位清华大学出版社
版次3版印次1
定价(元)38.0语种简体中文
尺寸26 × 19装帧平装
页数印数 3000

书籍信息归属:

互换性与技术测量是清华大学出版社于2017.出版的中图分类号为 TG801 的主题关于 零部件-互换性-高等学校-教材 ,零部件-技术测量-高等学校-教材 的书籍。