VLSI的统计分析和优化：时序和功耗

Preface

Introduction

1.1SourcesofVariations

1.1.1ProcessVariations

1.1.2EnvironmentalVariations

1.1.3ModelingVariations

1.1.4OtherSourcesofVariations

1.2ComponentsofVariation

1.2.1Inter-dieVariations

1.2.2Intra-dieVariations

1.3ImpactonPerformance

StatisticalModelsandTechniques.

2.1MonteCarloTechniques

2.1.1SamplingProbabilityDistributions

2.2ProcessVariationModeling

2.2.1PelgromsModel

2.2.2PrincipalComponentsBasedModeling

2.2.3Quad-TreeBasedModeling

2.2.4SpecializedModelingTechniques

2.3PerformanceModeling

2.3.1ResponseSurfaceMethodology

2.3.2Non-NormalPerformanceModeling

2.3.3DelayModeling

2.3.4InterconnectDelayModels

2.3.5Reduced-OrderModelingTechniques

StatisticalTimingAnalysis

3.1Introduction

3.2Block-BasedTimingAnalysis

3.2.1DiscretizedDelayPDFs

3.2.2ReconvergentFanouts

3.2.3CanonicalDelayPDFs

3.2.4MultipleInputSwitching

3.3Path-BasedTimingAnalysis

3.4Parameter-SpaceTechniques

3.4.1ParallelepipedMethod

3.4.2EllipsoidMethod

3.4.3Case-FileBasedModelsforStatisticalTiming

3.5BayesianNetworks

4StatisticalPowerAnalysis

4.1Overview

4.2LeakageModels

4.3High-LevelStatisticalAnalysis

4.4Gate-LevelStatisticalAnalysis

4.4.1DynamicPower

4.4.2LeakagePower

4.4.3TemperatureandPowerSupplyVariations

YieldAnalysis

5.1High-LevelYieldEstimation

5.1.1LeakageAnalysis

5.1.2FrequencyBinning

5.1.3YieldComputation

5.2Gate-LevelYieldEstimation

5.2.1TimingAnalysis

5.2.2LeakagePowerAnalysis

5.2.3YieldEstimation

5.3SupplyVoltageSensitivity

StatisticalOptimizationTechniques

6.1OptimizationofProcessParameters

6.1.1TimingConstraint

6.1.2ObjectiveFunction

6.1.3YieldAllocation

6.2GateSizing

6.2.1NonlinearProgramming

6.2.2LagrangianRelaxation

6.2.3UtilityTheory

6.2.4RobustOptimization

6.2.5Sensitivity-BasedOptimization

6.3BufferInsertion

6.3.1DeterministicApproach

6.3.2StatisticalApproach

6.4ThresholdVoltageAssignment

6.4.1Sensitivity-BasedOptimization

6.4.2DynamicProgramming

References

Index

　　本书为“国外电子信息精品著作”影印版之一，介绍了集成电路的统计CAD工具的相关知识。主要面向CAD工具开发人员、集成电路工艺技术人员，以及相关学科的学生和研究人员。书中介绍了统计时序和功耗分析技术中的最新研究成果，并结合参数化的产量作为设计过程中的主要目标函数。本书既可作为刚涉足CAD工具开发领域的人员的入门书籍，也可作为该领域工程师的参考手册。　　该书介绍了集成电路的统计CAD工具的相关知识。主要面向CAD工具开发人员、集成电路工艺技术人员，以及相关学科的学生和研究人员。书中介绍了统计时序和功耗分析技术中的最新研究成果，并结合参数化的产量作为设计过程中的主要目标函数。该书强调算法、过程变量的建模方法，以及统计方法。既可作为刚涉足CAD工具开发领域的人员的入门书籍，也可作为该领域工程师的参考手册。