出版社:电子工业出版社
年代:2016
定价:69.0
本书主要讲述电子器件在空间环境中的单粒子效应,器件在空间应用时单粒子辐照效应的地面评估方法,及其空间应用时的错误概率计算。全书共16章,第1章和第2章主要介绍电子元器件空间单粒子效应的基础知识;第3章至第5章对地面模拟空间单粒子效应的试验进行详细介绍、阐述试验数据的分析方法;第6章讲述试验数据如何与器件机理进行对应;第7章、第8章、第11章至第16章讲述空间单粒子翻转错误率的计算与空间环境中的预估;第9章和第10章介绍两种特殊的单粒子效应。
书籍详细信息 | |||
书名 | 空间单粒子效应站内查询相似图书 | ||
丛书名 | 国防电子信息技术丛书 | ||
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出版地 | 北京 | 出版单位 | 电子工业出版社 |
版次 | 1版 | 印次 | 1 |
定价(元) | 69.0 | 语种 | 简体中文 |
尺寸 | 26 × 19 | 装帧 | 平装 |
页数 | 印数 |
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