出版社：哈尔滨工业大学出版社
年代：2018
定价：38.0
本书共11章，第1~4章讨论了材料结构、形貌、成分的表征分析方法，详细分析了各测试技术的原理、技术特点、制样方法以及分析方法；第5~7章介绍了紫外-可见吸收光谱、拉曼光谱、以及傅里叶变换红外光谱；第8~9章讨论了电阻率测试方法以及霍尔效应，研究四探针测试技术中的共性问题，分析表面光电压技术的原理以及测试方法；第10~11章讨论了瞬态及稳态光谱在半导体材料测试分析中的应用。
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | 半导体材料测试技术站内查询相似图书 | ||
| 9787560377919 如需购买下载《半导体材料测试技术》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN | |||
| 出版地 | 哈尔滨 | 出版单位 | 哈尔滨工业大学出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 38.0 | 语种 | 简体中文 |
| 尺寸 | 16 × 23 | 装帧 | 平装 |
| 页数 | 印数 | ||
半导体材料测试技术是哈尔滨工业大学出版社于2018.12出版的中图分类号为 TN304.07 的主题关于 半导体材料－测试技术 的书籍。