出版社：科学出版社
年代：2017
定价：60.0
本书主要内容为GIS内部绝缘故障检测及诊断技术，分别设计局部放电、过热缺陷模型并搭建模拟故障平台，以开展两类故障下SF6分解特性对比实验。重点介绍光谱分析技术对SF6分解产物的定性定量检测，局部放电的故障诊断模型以及故障趋势估计建模，最终实现光谱分析技术的GIS故障统一预警。
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | 光谱分析技术在GIS绝缘故障诊断中的应用站内查询相似图书 | ||
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| 出版地 | 北京 | 出版单位 | 科学出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 60.0 | 语种 | 简体中文 |
| 尺寸 | 24 × 17 | 装帧 | 平装 |
| 页数 | 268 | 印数 | |
光谱分析技术在GIS绝缘故障诊断中的应用是科学出版社于2017.6出版的中图分类号为 P208.2 的主题关于 光谱分析－应用－地理信息系统－故障诊断 的书籍。