互换性与技术测量

互换性与技术测量

魏斯亮, 李时骏, 主编

出版社:北京理工大学出版社

年代:2009

定价:22.0

书籍简介:

本书系统地介绍了互换性与技术测量的基础知识,包括:互换性与标准化,极限与配合,形状和位置公差,表面粗糙度标准,技术测量基础知识,普通螺纹的公差与配合,滚动轴承的公差与配合,键与花键的公差与配合,渐开线圆柱齿轮传动公差,尺寸链的计算方法等,共计十章。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787564012588
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出版地北京出版单位北京理工大学出版社
版次2版印次5
定价(元)22.0语种简体中文
尺寸26装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

互换性与技术测量是北京理工大学出版社于2009.08出版的中图分类号为 TG801 的主题关于 零部件-互换性-高等学校-教材 ,零部件-测量-技术-高等学校-教材 的书籍。