出版社：电子工业出版社
年代：2004
定价：45.0
本书是“电子元器件质量与可靠性技术”丛书之一。本书在介绍电子元器件可靠性的必要性及基本概念的基础上，详细介绍了电子元器件的主要可靠性试验和通用的基本可靠性试验的原理、常用设备及操作程序，进而介绍了电子元器件可靠性试验的设计及技术问题。目的在于提高电子元器件可靠性试验的水平及技术。
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | 可靠性试验站内查询相似图书 | ||
| 丛书名 | 电子元器件质量与可靠性技术丛书 | ||
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| 出版地 | 北京 | 出版单位 | 电子工业出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 45.0 | 语种 | 简体中文 |
| 尺寸 | 26 | 装帧 | 平装 |
| 页数 | 印数 | 5000 | |
可靠性试验是电子工业出版社于2004.08出版的中图分类号为 TN6-33 的主题关于 电子元件－可靠性试验 的书籍。