出版社：电子工业出版社
年代：2004
定价：28.0
本书系统介绍大规模集成电路的测试方法学和可测试性设计，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础，也为电路（包括电路级、芯片级和系统级）的设计、制造、测试和应用人员之间建立起一个相互交流的平台。本书主要内容为电路测试和分析的基本概念和理论，数字电路的描述和模拟方法，组合电路和时序电路的测试生成方法，专用可测性设计，扫描和边界扫描理论，IDDQ测试，随机和伪随机的测试原理、各种测试生成电路结构及其生成序列之间的关系，与M序列相关的其它测试生成方法，内建自测试原理，各种数据压缩结构和压缩关系之间的关系，专用电路Memory和SoC等的可测性设计方法。
本书系统介绍大规模集成电路的测试方法学和可测试性设计，为读者进行更深层次的电路设计、模拟、测试和分析打下良好的基础，也为电路（包括电路级、芯片级和系统级）的设计、制造、测试和应用人员之间建立起一个相互交流的平台。 本书主要内容为电路测试和分析的基本概念和理论，数字电路的描述和模拟方法，组合电路和时序电路的测试生成方法，专用可测性设计，扫描和边界扫描理论，IDDQ测试，随机和伪随机的测试原理、各种测试生成电路结构及其生成序列之间的关系，与M序列相关的其它测试生成方法，内建自测试原理，各种数据压缩结构和压缩关系之间的关系，专用电路Memory和SoC等的可测性设计方法。
| 书籍详细信息 | |||
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| 出版地 | 北京 | 出版单位 | 电子工业出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 28.0 | 语种 | 简体中文 |
| 尺寸 | 26 | 装帧 | 平装 |
| 页数 | 印数 | 5000 | |
VLSI测试方法学和可测性设计是电子工业出版社于2005.01出版的中图分类号为 TN47 的主题关于 超大规模集成电路－测试技术 ,超大规模集成电路－测试－设计 的书籍。
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