MEMS可靠性

MEMS可靠性

(美) 哈策尔 (Hartzell,A.L.) , (美) 席尔瓦 (Silva,M.G.) , (瑞士) 谢伊 (Shea,H.R.) , 著

出版社:电子工业出版社

年代:2012

定价:39.0

书籍简介:

本书是关于MEMS可靠性的一本专著,主要内容包括:用于寿命预测的可靠性统计理论,MEMS产品设计阶段和制造阶段的失效模式,MEMS在使用中的失效模式,MEMS的失效根源及分析,MEMS的试验和鉴定标准,以及提升MEMS可靠性的工具和技术。本书的几位作者在MEMS可靠性方面拥有多年的学术研究经验和工业生产经验,内容具有较高的参考价值。

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书籍详细信息
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9787121188053
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出版地北京出版单位电子工业出版社
版次1版印次1
定价(元)39.0语种简体中文
尺寸26 × 18装帧平装
页数 236 印数

书籍信息归属:

MEMS可靠性是电子工业出版社于2012.11出版的中图分类号为 TN4 的主题关于 微电子技术-可靠性-高等学校-教材 的书籍。