电子元器件失效分析技术

电子元器件失效分析技术

恩云飞, 来萍, 李少平, 编著

出版社:电子工业出版社

年代:2015

定价:58.0

书籍简介:

本选题是工程应用类书,主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容,使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念,技术和设备、方法和流程,指导开展相关的失效分析工作,并了解失效预防的一些基本方法和手段。

书籍规格:

书籍详细信息
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丛书名可靠性技术丛书
9787121272301
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出版地北京出版单位电子工业出版社
版次1版印次1
定价(元)58.0语种简体中文
尺寸24 × 17装帧平装
页数印数

书籍信息归属:

电子元器件失效分析技术是电子工业出版社于2015.10出版的中图分类号为 TN6 的主题关于 电子元件-失效分析 ,电子器件-失效分析 的书籍。