出版社:科学出版社
年代:2018
定价:58.0
本著作采用透射电镜近阀能辐照技术,对IIa型、IIb型、Ia型、Ib型等多种金刚石进行电子辐照以形成孤立的本征缺陷,通过研究光致发光光谱中光学中心的振动光谱、扩散情况,以及应力、杂质、紫外照射对光学中心强度与分裂情况的影响,结合同位素辅助技术,根据同位素引起缺陷质量变化而造成局部振动模偏移的特征,最后阐明金刚石光学中心对应的缺陷结构及电荷状态,并揭示其光致变色机理,为金刚石半导体器件制备及性能调控提供理论基础。
书籍详细信息 | |||
书名 | 宽禁带半导体金刚石辐照缺陷的光致发光及光致变色站内查询相似图书 | ||
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出版地 | 北京 | 出版单位 | 科学出版社 |
版次 | 1版 | 印次 | 1 |
定价(元) | 58.0 | 语种 | 简体中文 |
尺寸 | 24 × 17 | 装帧 | 平装 |
页数 | 152 | 印数 |