纳米薄膜分析基础

纳米薄膜分析基础

(美) 阿尔弗德 (Alford,T.L.) 等, 编著

出版社:科学出版社

年代:2008

定价:64.0

书籍简介:

本书从原子谱分析、能量损失、电子密度及X射线检测等方面系统地对纳米薄膜进行了阐述。是凝聚态物理、材料物理专业的研究人员和研究生不可多得的一本好书。

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书籍详细信息
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丛书名国外物理名著系列
9787030222596
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出版地北京出版单位科学出版社
版次影印本印次1
定价(元)64.0语种英文
尺寸24装帧精装
页数印数

书籍信息归属:

纳米薄膜分析基础是科学出版社于2008.出版的中图分类号为 TB383 的主题关于 纳米材料-薄膜-英文 的书籍。