出版社：科学出版社
年代：2010
定价：116.0
本书介绍了异质和纳米结构半导体的特性，同时讨论了最新的独特的创新的纳米工艺。全面描述了对异质/纳米结构性质进行表征的手段和方法。包括高分辨率X射线衍射技术、拉曼谱技术、X射线吸收精细结构等内容。
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | 半导体异质结构与纳米结构表征站内查询相似图书 | ||
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| 出版地 | 北京 | 出版单位 | 科学出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 116.0 | 语种 | 英文 |
| 尺寸 | 26 × 19 | 装帧 | 精装 |
| 页数 | 472 | 印数 | |
半导体异质结构与纳米结构表征是科学出版社于2010.3出版的中图分类号为 TN304 的主题关于 半导体材料－异质结－英文 ,半导体材料：纳米材料－结构－英文 的书籍。