出版社：科学出版社
年代：2010
定价：50.0
本书重点介绍过去五年内取得的相关研究成果，兼顾对国内外近期相关工作的扼要介绍。本书涉及数字集成电路模拟验证的覆盖量化评估和测试激励生成、形式化方法。主体内容包括量化评估、测试激励生成、形式验证三大部分。本书内容反映了中科院计算所在数字集成电路设计验证方面的最新研究进展，主要工作成果已在国内外学术刊物和会议上发表。基础研究成果“集成电路逻辑测试与验证基础技术”[本书第2，5～12章]获2007年度北京市科学技术奖。
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | 数字集成电路设计验证站内查询相似图书 | ||
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| 出版地 | 北京 | 出版单位 | 科学出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 50.0 | 语种 | 简体中文 |
| 尺寸 | 24 × 17 | 装帧 | 精装 |
| 页数 | 440 | 印数 | |
数字集成电路设计验证是科学出版社于2010.6出版的中图分类号为 TN431.2 的主题关于 数字集成电路－电路设计－验证 的书籍。