出版社：电子工业出版社
年代：2004
定价：30.0
本书介绍如何对电子元器件生产过程进行统计质量控制，包括实施SPC、Cpk和PPM技术的必要性、基本概念和方法，对元器件生产过程应用SPC和Cpk时出现的特殊问题和解决办法，重点在于帮助读者掌握如何解决实际应用中的问题。
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | 统计过程控制与评价站内查询相似图书 | ||
| 丛书名 | 电子元器件质量与可靠性技术丛书 | ||
| 9787121002045 《统计过程控制与评价》pdf扫描版电子书已有网友提供下载资源链接 | |||
| 出版地 | 北京 | 出版单位 | 电子工业出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 30.0 | 语种 | 简体中文 |
| 尺寸 | 26 | 装帧 | 平装 |
| 页数 | 印数 | 5000 | |
统计过程控制与评价是电子工业出版社于2004.08出版的中图分类号为 TN6 的主题关于 电子元件－生产过程－统计控制：质量控制 的书籍。