表面分析技术

表面分析技术

(英) 约翰·C·维克曼 (JOHN C. VICKERMAN) , (英) 伊恩·S·吉尔摩 (IAN S. GILMORE) , 编

出版社:中山大学出版社

年代:2019

定价:180.0

书籍简介:

本书介绍表面分析主要技术,包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散射和卢瑟福背散射技术、表面分子振动光谱技术以及扩展X射线吸收精细结构和扫描隧道显微技术、原子力显微技术等。本书主要阐述上述表面分析技术的基本原理和实用样品实例分析,每章结尾处还附有相关的分析练习题供读者训练,判断自己对书中知识内容掌握的程度。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787306066893
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出版地广州出版单位中山大学出版社
版次1版印次1
定价(元)180.0语种简体中文
尺寸26 × 19装帧精装
页数印数 1500

书籍信息归属:

表面分析技术是中山大学出版社于2019.8出版的中图分类号为 O655.9 的主题关于 表面分析 的书籍。