最新集成电路测试技术

最新集成电路测试技术

高成, 张栋, 王香芳, 编著

出版社:国防工业出版社

年代:2008

定价:30.0

书籍简介:

本书介绍了常用集成电路测试的原理、方法和技术,涵盖了数字集成电路、模拟集成电路、SOC器件、混合集成电路、电源模块、集成电路测试系统等。

书籍规格:

书籍详细信息
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9787118060713
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出版地北京出版单位国防工业出版社
版次1版印次1
定价(元)30.0语种简体中文
尺寸26装帧平装
页数 303 印数

书籍信息归属:

最新集成电路测试技术是国防工业出版社于2009.01出版的中图分类号为 TN407 的主题关于 集成电路-测试技术 的书籍。