出版社:中国经济出版社
年代:2019
定价:68.0
在大数据时代背景下,随着微观和宏观层面数字信息的不断丰富完善,面板数据模型在实证研究中正受到日益广泛的重视和应用,各种基于面板数据特征的计量方法不断涌现,并被应用于解决经济中的重要现实问题。面板数据模型可以有效地处理个体和时间异质性效应,而在个体和时间维度较大的情形下,相应的计量估计会因高维数据而产生有别于以往传统方法的新特性。而现有的研究往往忽视了高维环境下面板模型的新特征,从而可能会得出谬误的研究结论。本书汇集了作者对面板模型的三类重要问题提出的检验理论方法,重点探讨了当待估或待检验参数维度增大的情况下,如何构造有效的计量检验加以甄别,从而对实证研究中特定方法的适用性问题提出建设性的科学建议。
书籍详细信息 | |||
书名 | 面板数据模型中的高维检验研究站内查询相似图书 | ||
9787513656771 如需购买下载《面板数据模型中的高维检验研究》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息,请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN | |||
出版地 | 北京 | 出版单位 | 中国经济出版社 |
版次 | 1版 | 印次 | 1 |
定价(元) | 68.0 | 语种 | 简体中文 |
尺寸 | 17 × 24 | 装帧 | 平装 |
页数 | 印数 | 500 |