FPGA抗辐射加固技术

书籍简介:

为使本领域专家学者及时了解国内同行研究成果，《抗核加固》期刊编委会于2012年出版了FPGA抗辐射加固技术研究专辑。专辑分上下册，共收录18篇文章，研究成果来自系统应用单位、器件研制单位和试验单位等领域内各相关单位，内容涵盖了FPGA辐射效应及损伤机理、抗辐射加固设计、抗辐射性能试验评估等抗辐射加固技术各环节，效应种类覆盖了总剂量、单粒子、瞬时剂量率等辐射效应主要方向。为使更多国内同行了解和参考当前研究成果、扩大研究成果影响，现计划以出书的形式出版该研究专辑。

书籍规格:

书籍信息归属:

FPGA抗辐射加固技术是中国原子能出版社于2016.11出版的中图分类号为 TL7 的主题关于 核防护 的书籍。