光电检测技术

前言第1章 光电检测技术基础1.1 光电检测技术概述1.2 光电检测的基本概念1.3 光频电磁波的基本理论和定律1.3.1 麦克斯韦方程1.3.2 平面波1.3.3 电磁场中的能量1.3.4 光的反射和折射定律1.3.5 电磁波谱与光度学1.3.6 光的量子性1.4 半导体物理基础1.4.1 半导体材料的能带1.4.2 半导体的导电性1.4.3 半导体PN结1.4.4 半导体中的光吸收1.5 光电检测系统的组成及特点1.6 光电检测方法的应用和发展趋势1.7 本书的主要内容

第2章 光电检测系统中的光源2.1 光源的分类2.2 光源的特性参数及选择的基本要求2.2.1 辐射效率和发光效率2.2.2 光谱功率分布2.2.3 光源强度与空间光强分布2.2.4 光源的颜色2.2.5 光源的色温2.2.6 光源的稳定性2.2.7 光源其他方面的要求2.3 热辐射光源2.3.1 黑体及黑体模拟器2.3.2 白炽灯2.3.3 红外辐射灯2.4 气体放电光源2.4.1 脉冲灯2.4.2 燃烧式闪光泡2.4.3 原子光谱灯2.4.4 汞灯2.5 金属卤化物灯2.5.1 金卤灯的性能结构2.5.2 金卤灯的工作原理2.5.3 金卤灯的分类和选择2.6 固体发光光源2.6.1 电致发光屏2.6.2 发光二极管2.7 激光光源2.7.1 气体激光光源2.7.2 固体激光器2.7.3 半导体激光器2.7.4 可调谐半导体激光器

第3章 光学变换器件3.1 光调制器件3.1.1 光束调制原理3.1.2 电光调制器件3.1.3 声光调制3.1.4 磁光调制器3.1.5 空间光调制器3.2 光扫描器件3.2.1 机械扫描3.2.2 电光扫描3.2.3 电光数字式扫描3.3 光放大器3.3.1 光放大器的一般概念3.3.2 半导体光放大器3.3.3 掺铒光纤放大器3.3.4 光纤拉曼放大器3.4 光开关3.4.1 微机电光开关3.4.2 电光开关3.4.3 热光开关3.4.4 磁光开关3.4.5 声光开关3.5 新型光学变换器件3.5.1 光纤陀螺用集成光学芯片3.5.2 通信用集成光学强度调制器3.5.3 GC1120S型高消光比集成光学强度调制器3.5.4 相位调制器

第4章 光子探测器件4.1 光电探测器件的特性参数4.2 光电导效应和光敏电阻4.2.1 光电导效应4.2.2 光敏电阻4.3 光电发射器件4.3.1 光电发射效应4.3.2 光电倍增管4.3.3 微通道板4.4 结型光电器件4.4.1 光生伏特效应4.4.2 光电池4.4.3 光敏二极管4.4.4 PIN光敏二极管4.4.5 雪崩光敏二极管4.4.6 光敏晶体管4.4.7 光生伏特器件组合件4.4.8 光电位置敏感器件4.5 各种光子器件的比较与选取

第5章 光电成像器件5.1 像管5.2 摄像管5.2.1 摄像管的作用及分类5.2.2 摄像管的结构和工作原理5.3 电荷耦合器件（CCD）5.3.1 CCD的基本原理5.3.2 CCD时序信号读出原理5.3.3 性能评价指标5.4 互补金属.氧化物.半导体（CMOS）5.4.1 CMOS像元构造5.4.2 CMOS图像传感器的特性参数5.4.3 CCD与CMOS的区别比较5.5 电荷注入器件（CID）5.6 自扫描光敏二极管阵列（SSPD）5.6.1 SSPD线阵列5.6.2 SSPD面阵列5.7 红外焦平面器件

第6章 热电探测器件6.1 热辐射的一般规律6.2 热敏电阻6.3 温差电偶与热电堆6.4 热释电器件6.4.1 热释电效应6.4.2 热释电探测器6.4.3 热释电成像器件

第7章 光电信号处理7.1 光电检测系统的噪声7.1.1 噪声的分类及性质7.1.2 光电探测器主要的噪声类型7.1.3 噪声等效分析与设计7.2 光电检测系统的动态特性7.2.1 光电信号输入电路的动态计算7.2.2 光电检测电路的频率特性7.3 弱光检测的信号处理技术7.3.1 窄带滤波器与锁相放大技术7.3.2 取样积分法7.3.3 相关检测技术7.3.4 光子计数技术

第8章 激光检测技术8.1 激光准直技术8.1.1 激光准直技术的分类8.1.2 大气折射率对激光准直精度的影响8.1.3 激光准直仪8.2 激光多普勒测速技术8.2.1 多普勒效应简述8.2.2 光多普勒效应8.2.3 激光器多普勒测速原理8.2.4 激光多普勒测速的基本模式8.2.5 激光多普勒测速信号处理方法8.2.6 激光多普勒测速技术的应用8.3 激光干涉检测技术8.4 激光衍射检测技术8.4.1 激光衍射测量概述8.4.2 激光衍射测量原理8.4.3 激光衍射测量分辨率8.5 激光测距技术8.5.1 激光测距技术的基本原理8.5.2 激光测距技术的应用8.5.3 激光测距装置

第9章 光纤传感技术9.1 光纤的结构和基本原理9.1.1 光纤的结构9.1.2 传感用光纤器件9.2 强度调制型光纤传感器技术9.2.1 反射式强度调制9.2.2 透射式强度调制9.2.3 光吸收系数强度调制9.3 相位调制型光纤传感器技术9.3.1 光纤相位调制机理9.3.2 光纤相位调制的普通干涉测量9.4 偏振调制型光纤传感器技术9.4.1 光纤偏振调制的常用物理效应9.4.2 光纤偏振调制机理的典型应用9.5 频率调制型光纤传感器技术9.5.1 光学多普勒效应9.5.2 光纤多普勒传感技术9.6 波长调制型光纤传感器技术9.6.1 光纤荧光探测技术9.6.2 光纤黑体辐射探测技术

第10章 光谱技术10.1 光谱检测技术概述10.2 傅里叶变换红外光谱技术10.2.1 红外光谱10.2.2 傅里叶变换红外光谱原理10.2.3 傅里叶变换红外光谱应用10.3 激光拉曼光谱检测技术10.3.1 激光拉曼光谱10.3.2 几种激光拉曼光谱技术10.3.3 激光拉曼光谱检测技术的应用简介10.4 荧光光谱检测技术10.4.1 荧光光谱的基本原理10.4.2 X射线荧光光谱检测技术10.4.3 激光原子荧光光谱检测10.4.4 激光离子荧光光谱检测10.5 THz检测技术10.5.1 THz辐射的基本情况和主要特征10.5.2 THz时域光谱探测技术10.5.3 THz相关探测技术10.5.4 THz成像技术10.5.5 THz检测技术存在的问题及展望参考文献

《光电检测技术/普通高等教育“十二五”规划教材 》系统介绍了光电检测技术的基础知识，光电检测系统的组成及各部分的功能，各类光电器件的工作原理、特性和典型应用及其发展情况等。本书共分10章，主要内容包括：光电检测技术基础、光电检测系统中的光源、光学变换器件、光子探测器件、光电成像器件、热电探测器件、光电信号处理、激光检测技术、光纤传感技术、光谱技术等。