出版社：吉林教育出版社
年代：2015
定价：21.0
本著作研究了数字电路单故障、多故障以及时滞故障测试生成算法，提出了基于神经网络、布尔差分等测试生成算法，实验测试结果表明提出的算法故障覆盖率可达到98％，且故障平均测试生成时间较短，优于传统测试生成算法。
| 书籍详细信息 | |||
| 书名 | 数字集成电路测试生成算法站内查询相似图书 | ||
| 9787555314257 如需购买下载《数字集成电路测试生成算法》pdf扫描版电子书或查询更多相关信息，请直接复制isbn,搜索即可全网搜索该ISBN | |||
| 出版地 | 长春 | 出版单位 | 吉林教育出版社 |
| 版次 | 1版 | 印次 | 1 |
| 定价(元) | 21.0 | 语种 | 简体中文 |
| 尺寸 | 18 × 26 | 装帧 | 平装 |
| 页数 | 印数 | ||
数字集成电路测试生成算法是吉林教育出版社于2015.5出版的中图分类号为 TN431.207 的主题关于 数字集成电路－测试技术－算法 的书籍。
李晓维, 韩银和, 胡瑜, 李佳, 著
(美) 拉贝艾 (Rabaey,J.M.) 等, 著
(美) 宋莫康等, 著
(美) 拉贝艾 (Rabaey,J.M.) , (美) 钱德卡桑 (Chandrakasan,A.) , (美) 尼克里克 (Nikolic,B.) , 著
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汤湘林, 编
(美) 简·M.拉贝艾 (Jan M. Rabaey) , 等著
《贴片数字集成电路速查手册》编写组, 编
李晓维, 胡瑜, 张磊, 鄢贵海, 著